Caractérisation et Métrologie – Plateforme dédiée à la métrologie du signal

Caractérisation & Métrologie – Plateforme dédiée à la métrologie du signal jusqu’à 110 GHz, avec des capacités expérimentales:

• Caractérisation d’antennes à partir de 800 MHz et jusqu’à 110GHz avec deux chambres anéchoïques
• Caractérisation d’amplificateur de puissance RF dans la bande 40 – 60 GHz avec un banc load pull dédié

École : Télécom Paris

Responsable : Bruno THEDREZ
bruno.thedrez@telecom-paris.fr